[17p-P01-1~16] 6.4 薄膜新材料

[17p-P01-3] 鉄酸フッ化ビスマス薄膜の組成に依存した物性と電子状態

〇上垣外 明子¹、佐野 瑞歩¹、重松 圭²、出村 郷志³、組頭 広志⁴、片山 司⁵、廣瀬 靖⁶、近松 彰¹ (1.お茶大理、2.東工大フロンティア研、3.日大理工、4.東北大多元研、5.北大電子研、6.都立大理)

キーワード：

鉄酸フッ化ビスマス、マルチフェロイック物質、パルスレーザー堆積法

これまで我々は、マルチフェロイック特性が予想されたペロブスカイト型鉄酸フッ化ビスマスBi_1-xBa_xFeO_3-xF_x単結晶薄膜をx = 0.2の組成で作製し、室温での強誘電性を明らかにした。本研究では、x = 0から0.4の間で組成を変えた薄膜を作製し、強誘電性と電子状態を調べた。強誘電測定およびX線光電子分光法から、鉄酸フッ化ビスマスは組成により異なる物性と電子状態をもつことが示された。