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[18p-B1-2]ミストCVD法を用いた(In,Ga)2S3薄膜の作製

〇荒木 耀平1、船木 顕広1、西村 昂人1、山田 明1 (1.東工大工)

キーワード:

ミストCVD、バッファ層、(In、Ga)2S3

Cu(In,Ga)Se2太陽電池の高効率化において重要なn型CdSバッファ層の代替材料として、(In,Ga)2S3薄膜をミストCVD法により作製した。製膜は窒素で満たされ無酸素条件下のグローブボックス内で行われた。XRD測定および電子顕微鏡を用いた観察から、InとGaの組成比によって結晶構造が変化することを確認した。また、Gaが増加するとバンドギャップが広がることを確認した。当日は、(In,Ga)2S3薄膜のより詳細な電気的・光学的特性を含めて報告する予定である。

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