講演情報
[19a-A31-3]有機原料を用いたALD法によるWS2薄膜成長
〇横田 浩1、町田 英明2、石川 真人2、須藤 弘2、若林 整3、澤本 直美1,4、横川 凌1,4、小椋 厚志1,4 (1.明治大理工、2.気相成長株式会社、3.東工大、4.明大MREL)
キーワード:
遷移金属ダイカルコゲナイド、二硫化タングステン、原子層堆積法
二硫化タングステン(WS2)は代表的な2次元層状遷移金属ダイカルコゲナイド(TMD)材料であり、高キャリア移動度を有し、層数に応じてバンドギャップが変化する性質から、次世代半導体デバイス材料として注目されている。これまで、我々は低温成膜が可能な新規原料を開発し、MOCVD成膜を行ってきた。本研究では、より膜均一性や層数制御性が高いALD法を適用し、WS2薄膜の結晶構造や結晶状態、I-V特性を評価した。
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