[20a-A22-1~10] 21.1 合同セッションＫ 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

9:30 〜 9:45

[20a-A22-3] 低温液相プロセスによるSnO₂薄膜の作製と特性評価

〇(M2)三里 康¹、Madan Niraula¹、市村 正也¹ (1.名工大)

キーワード：

酸化物半導体、x線検出器