講演情報

[20a-A24-5]長波長中性子照射によるSi基板及びQST基板上に作製したBGaN検出器の中性子検出特性評価

〇安藤 光佑1、西川 瞬1、櫻井 辰大1、川崎 晟也2、日野 正裕4、本田 善央5、天野 浩5、松本 倖汰6、伊藤 範和6、田中 岳利6、中原 健6、井上 翼1、青木 徹3、中野 貴之1,3 (1.静岡大、2.名古屋大、3.静岡大電研、4.京都大複合研、5.名古屋大IMaSS、6.ローム株式会社)
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キーワード:

中性子検出半導体、BGaN、QST基板

BGaNは大きな中性子捕獲断面積を持つB原子を含むことから、新規中性子検出半導体として提案され開発が行われている。これまでの研究では、作製が容易であるが大口径化が難しいAl2O3基板上にBGaNデバイスを作製し、中性子検出特性評価を実施していた。本研究では大口径化に着目し、大口径化が容易なSi, QST基板上にBGaNデバイスを作製した。詳細な中性子検出特性を評価するため、MINE-1(JRR-3)にて長波長中性子を用いて中性子検出特性評価を実施した。

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