講演情報

[20p-A22-9]MBE 法による NiO/β-Ga2O3 ヘテロ接合技術の開発

〇山口 博隆1、反保 衆志1、永井 武彦1、中田 義昭2、佐々木 公平2 (1.産総研、2.(株)ノベルクリスタルテクノロジー)

キーワード:

ワイドギャップ半導体


コメント

コメントの閲覧・投稿にはログインが必要です。ログイン