[20p-B3-1~15] 6.3 酸化物エレクトロニクス

13:15 〜 13:30

[20p-B3-2] ICTS法による金属/Nb:SrTiO₃接合の界面状態と電圧―電流特性の解明

〇鄭 雨萌¹、木下 健太郎¹ (1.東京理科大)

キーワード：

ショットキー接合、過渡容量分光、界面準位

我々は深い準位を測定できる等温過渡容量分光法(ICTS)を用いて、金属/NSTO界面状態とメモリー動作の関係の解明を目指す。