講演情報
[22p-P02-4]電圧印加による有機EL素子の劣化前後における電位分布変化の計測
〇(PC)佐々木 祐聖1、山本 和生1,2、穴田 智史1、吉本 則之2 (1.JFCC、2.岩大理工)
キーワード：
有機EL,透過電子顕微鏡,電子線ホログラフィー
有機EL素子の寿命や発光効率向上のためには、その劣化過程の理解が重要である。本発表では、透過電子顕微鏡を用いた電位計測法である電子線ホログラフィーによって、電圧印加による劣化前後における有機EL素子の観察を行った。劣化後の素子はα-NPDとAlq3からなる有機層における膜厚の増加および電位分布の消失が計測された。本研究により、電圧印加による劣化に伴う素子構造および電位分布変化を可視化することができた。