講演情報
[24a-21C-7]Hakki-Paoli法を用いたUV-B半導体レーザーの利得スペクトルの測定
〇齋藤 巧夢1、近藤 涼輔1、松原 衣里1、西林 到真1、井本 圭紀1、山田 凌矢1、三宅 倫太郎1、丸山 竣大1、岩山 章1、岩谷 素顕1、竹内 哲也1、上山 智1、三宅 秀人2 (1.名城大理工、2.三重大院工)
キーワード：
窒化物,紫外レーザ
本グループでは格子緩和した高品質AlGaNテンプレート上にUV-B半導体レーザーを作製し室温パルス発振を実現している。レーザーの特性を正確に理解するためには光学利得や光学ロスを正確に解析することが重要である。特に電流注入時における光学利得の測定はデバイス設計や高性能デバイスを実現するためには非常に重要である。本報告では、レーザーダイオードにおいて端面からの発光を高分解能な分光器を用いてピーク・バレイを測定することによって光学利得を見積もるHakki-Paoli法を用いてUV-Bレーザーのデバイスの評価を行いその問題点を検証した。