講演情報
[24a-P05-1]近赤外領域の深部散乱光の直接結像に基づく不透明媒質への応用を目的とした断層撮影技術の検証
〇平野 輝1、宗實 晃輝1、安井 武史2、江本 顕雄2 (1.徳島大院創成、2.徳島大 pLED)
キーワード：
断層撮影,散乱,樹脂
近年、非破壊検査のニーズは高まっており、測定対象物も多岐に及ぶ。樹脂材料のように低単価の対象物の場合、比較的低コストで、測定時間の短い、非侵襲の非破壊検査技術が望まれる。我々が提案している、深部散乱光を直接結像させる非侵襲な断層撮影技術の、不透明媒質への応用を目的として、本研究では樹脂材料の透過率が高い波長1550 nmの連続波発振レーザー光源を使用し断層撮影技術の検証を行った。