講演情報
[25a-31B-7]フレキシブルWO3ナノワイヤの湾曲部におけるナノ物性評価
〇(DC)根北 翔1、笠村 裕也1、御園 樹2、田中 楽乃2、奥山 哲也1,2、波多 聰1 (1.九大総理工、2.久留米高専)
キーワード：
フレキシブル半導体,酸化タングステン（WO3）,電子エネルギー損失分光（EELS）
低次元ナノ構造の金属酸化物は多くのフレキシブル電子デバイスに応用されている。こうした低次元ナノ材料が湾曲したときの物性は直線部と異なることが想定されるが、蛍光材料におけるカソードルミネセンス測定を除いて、それらのナノ物性は十分に解明されていない。本研究では、酸化タングステンナノワイヤを対象とし、その湾曲部の物性値を走査透過電子顕微鏡による電子エネルギー損失分光にて評価した。