講演情報
[25p-12P-5]光子数識別器正作用素値測度凸最適化推定法のショット雑音起因推定精度劣化
〇吉澤 明男1、福田 大治1,2 (1.産総研、2.産総研・東大 オペランド計測 OIL)
キーワード：
正作用素値測度,光子数識別器,凸最適化
光子数識別器（超伝導転移端センサ）の正作用素値測度はk-photon-input n-photon-detectionの条件付確率で推定できる。前回、複数のコヒーレント光に対する光子数識別器の応答特性（実験値）から凸最適化推定法を評価した。今回、シミュレーション上で応答特性を再現してショット雑音起因の推定精度劣化について考察する。