講演情報
[10p-E215-8]溶融金属中in-situ AFMによるシリコン結晶成長表面構造の冷却速度依存性分析
〇酒匂 大雅1、西脇 悠人1、一井 崇1 (1.京大院工)
キーワード:
Si結晶成長、溶融金属、原子間力顕微鏡
半導体結晶の溶融金属フラックス成長では,不透明な溶融金属に覆われた成長界面の直接観察が困難であった.本研究では,溶融金属中原子間力顕微鏡 (AFM) を用い,溶融Ga中におけるSi結晶成長表面のin-situ観察を行った.冷却速度を変化させた結果,低速冷却 (0.03 ℃ min-1) ではステップフロー成長が進行し,高速冷却 (5.0 ℃ min-1) ではステップバンチングが発生することを直接確認し,溶融Ga中でのSi結晶成長メカニズムの冷却速度依存性を実験的に示した.
