講演情報

[11a-C309-1]エピタキシャル成長したSi/SiGeナノドット/Si構造の帯電特性評価

〇(D)白 鍾銀1、今井 友貴1、山本 裕司2,1、牧原 克典1,2 (1.名大院工、2.IHP-Leibniz Institut für innovative Mikroelektronik)

キーワード:

SiGeナノドット、帯電特性