講演情報

[11a-E203-7]単結晶Ti電極/多能性®中間膜を用いたエピタキシャル成長Si, Ge,またはScドープAlN膜の形成とBAW特性評価

〇(M1)権守 秀昭1、鈴木 雅視1、垣尾 省司1、關 雅志2、木島 健2 (1.山梨大、2.株式会社Gaianixx)

キーワード:

AlN薄膜、エピタキシャル成長、バルク弾性波