講演情報

[8a-A21-2]Bi2Te3系化合物半導体における銀焼結接合部の環境信頼性評価

〇(M1)郷原 陽向1、辻横 一1、桂 章皓1、浜田 尚毅1、岡西 音哉1、廣瀬 由紀子1、菅原 徹1 (1.京工繊大)

キーワード:

接合、化合物半導体、環境試験

未利用熱を電力へ変換する熱電発電デバイスの実用化には、半導体/金属接合界面の高信頼化が不可欠である。本研究では、Bi2Te3系化合物半導体と銅基板を銀焼結接合し、無荷重・荷重付与条件で試料を作製した。高温保持および熱サイクル試験により、接合条件が界面強度と環境信頼性に及ぼす影響を評価し、高耐久接合の設計指針を得た。