講演情報
[8p-A21-11]超伝導X線検出器を用いた軟X線吸収分光法によるチタン酸ストロンチウム薄膜の酸素の異方的な電子状態
〇(M1)内藤 康太1、中島 伸夫1、Yang Weirong2、安井 伸太郎2、志岐 成友3、Anspoks Andris4 (1.広島大院先進理工、2.東京科学大ZC研、3.産総研、4.ISSP, Univ. of Latvia)
キーワード：
強誘電体薄膜、超伝導X線検出器、アニオンの電子状態
チタン酸ストロンチウム薄膜の酸素2p電子状態の異方性を解明することを目的とし、超伝導X線検出器を用いて、酸素K端X線吸収スペクトルの偏光依存性を測定した。単結晶では入射角依存性は見られなかったが、薄膜では入射角によって強度比が変化した。この変化は、薄膜で実現する酸素2p電子状態の異方性によるものである。超伝導X線検出器を用い、酸素Kα線を選別して測定することで、酸素2p軌道の異方的電子状態を明らかにした。