講演情報
[8p-B12-3]HAUP法に基づいた異方性媒質の対角位近傍における直線複屈折および直線二色性の測定原理の開発
〇岡野 洸明1、チョウ コン1、中西 卓也2、朝日 透1,2、中川 鉄馬2 (1.早大先進理工、2.早大総研機構)
キーワード：
高精度万能旋光計、直線複屈折、直線二色性
本研究では、透過光強度が最大となる光学配置（対角位）におけるHAUP法に基づいた異方性媒質の直線複屈折（LB）および直線二色性（LD）の測定原理を、Jones行列計算法を用いた偏光解析により導出した。また、本測定原理を、非吸収性一軸性結晶MgF2および吸収の強い銅酸化物超伝導体Bi2Sr2CaCu2O8+δ (Bi2212) 単結晶に適用した。その結果、対角位におけるHAUP法から得られたLBおよびLDは、従来の測定結果と精度よく一致することが明らかとなった。