セッション詳細
[8p-B12-1~6]3.7 光計測技術・機器
2026年9月8日(火) 16:00 〜 17:30
B12 (工学部 B棟)
座長:水野 洋輔(横国大)
本セッションでは、光学的手法を用いた物性評価および精密計測に関する研究を取り上げる。ピコ秒超音波法による薄膜評価、レーザスペックルを用いた距離・速度計測、異方性媒質の複屈折・二色性測定、周波数領域干渉による分散計測、レーザドップラ流速計、深紫外域の屈折率センシングなど、基礎原理からデバイスの小型化・高機能化まで幅広く議論する。
[8p-B12-1]ピコ秒超音波法を用いた不透明薄膜の複素光弾性定数評価法の提案
〇友田 基信1、松田 理2、Oliver B. Wright2,3 (1.大分大理工、2.北大工、3.阪大工)
[8p-B12-3]HAUP法に基づいた異方性媒質の対角位近傍における直線複屈折および直線二色性の測定原理の開発
〇岡野 洸明1、チョウ コン1、中西 卓也2、朝日 透1,2、中川 鉄馬2 (1.早大先進理工、2.早大総研機構)
[8p-B12-6]ITO薄膜の損失モード共鳴と異常分散を用いた深紫外域の屈折率センシング
〇(M2)高柳 拓実1、田邉 一郎2、中田 和明1、小林 孝嘉3、徳永 英司1 (1.東理大理、2.立教大、3.陽明交通大)
