2026年第87回応用物理学会秋季学術講演会
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17:00 〜 17:15
[8p-N101-14]
InAlN 熱電薄膜の膜厚増加時のクラックフリー化
〇堺 悠眞
1
、荒木 努
2
、出浦 桃子
1,3
(1.早大理工、2.立命館大理工、3.立命館大R-GIRO)
キーワード:
InAlN、熱電薄膜、RF-MBE
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