講演情報
[9a-PA7-8]量子ドット素子内の電場環境評価に向けたStark信号解析
〇小田 大規1、鐘本 勝一1,2 (1.大阪公大院理、2.南部研)
キーワード：
量子ドット、分光法
近年量子ドット（QD）を利用したLEDの発展が著しいが、更なる発展に向けては、デバイス内部の状態や動作過程を評価する計測系が必要で、我々は、素子にバイアスを印加した際の透過光強度変化を計測するデバイス変調吸収分光法（BMA）による素子内部の評価を進めている。LED等の素子に電圧を印加すると、キャリヤ注入に加え、素子内の電場変化に伴われるStark信号がBMA信号に現れる。この信号が素子内の電場環境評価に活用できると期待しており、本研究ではQDの電子オンリー素子（EOD）に対するBMA分光法により、QD内の電場環境を解明することを目的としている。