講演情報
[9p-A22-12]ナノシートFETにおけるシングルイベント効果のシミュレーション解析
〇(M1)Cierra Filbert Vanness1、鎌倉 良成1 (1.大阪工大情)
キーワード：
ナノシート FET、ソフトエラー、シミュレーション
ソフトエラーは集積回路の信頼性に関わる重大な懸念要因の一つとして認識されており，シミュレーション解析も広く行われている。中でもTCADデバイスシミュレータは精度が高いが，膨大な計算時間が必要なためSPICEを用いた簡易解析も有用な手段といえる。本研究ではTCADで求めた放射線入射後のナノシートFETに流れる過渡電流をSPICEで再現することを試み，この簡易解析法を利用して多様な入射条件下でのSRAM挙動を調べた。