講演情報

[9p-B31-5]半導体プロセスにおけるカーボン膜の課題

〇矢崎 晃平1 (1.東京エレクトロン)

キーワード:

半導体

微細化に伴い重要化したカーボンハードマスクの要求(高エッチング耐性、低ストレス、形状ばらつき抑制)を整理し、膜質と応力制御の課題を明確化する。