講演情報
[9p-E311-8]PA-MBE成長ScAlN/GaNヘテロ構造のリーク電流及び光電流の評価
〇城谷 光亮1、久保田 航瑛1、佐々木 洸1、中根 了昌1、前田 拓也1 (1.東大工)
キーワード:
ScAlN、PA-MBE、光電流
ScAlNは,大きなバンドギャップや圧電係数,強い自発分極,強誘電性などの物性を持ち,GaNデバイスとの融合による新機能の発現が期待される.近年,複数の結晶成長法によりScAlN/GaN構造におけるScAlNの強誘電性が確認されているが MBE法による報告は限定的である.そこで,本研究ではPA-MBE法によりScAlN/GaNヘテロ構造を作製し,その構造特性,リーク電流特性,光電流特性を調べた.
