講演情報
[15a-PA4-8]変調X線励起によるシンチレーション減衰時定数評価に向けた周波数領域測定手法の数値検討
〇佐藤 大地1 (1.富山高専)
キーワード：
シンチレータ、蛍光寿命、周波数領域測定
フォトンカウンティング検出器を搭載したX線CTの撮影時間短縮には短寿命シンチレータの探索が重要であり、高SNR・広ダイナミックレンジでの迅速評価が必要である。時間領域法は計数率上限や装置応答で多成分同定に制約があるため、周期変調X線と参照同時計測に基づく周波数領域測定を数値検討した。周波数10MHzで蛍光寿命約16nsを概ね測定可能であることが明らかになり、ナノ秒オーダー成分には100MHz級が必要という設計指針を得た。