講演情報
[15a-PA5-7]エレクトロルミネッセンス法による劣化試験前後の結晶シリコン太陽電池モジュールの飽和電流密度の定量化
〇小松 紅希1、松川 新1、來福 至1、石河 泰明1 (1.青山学院大理工)
キーワード：
シリコン太陽電池、エレクトロルミネッセンス法、飽和電流密度
結晶Si太陽電池モジュールの劣化で増大する再結合を空間分布で捉えるため、非破壊のエレクトロルミネッセンス法に着目。電圧誘起劣化(PID)で増大するとされる空乏層再結合指標の再結合飽和電流密度J02は定量が難しい。ELに基づくJ02算出法を提案し、PID前後のJ02マップと平均値変化で妥当性を検証した