[15p-PB2-1~69] 1 応用物理学一般（ポスター）

[15p-PB2-61] 有限要素法解析による磁気光学イメージングにおける欠陥深さと漏洩磁界強度の関係の定量的解析

〇神谷 夏希¹、橋本 良介¹ (1.鈴鹿高専)

キーワード：

磁気光学イメージング、有限要素法、磁界センサ

磁気光学イメージングはファラデー効果による偏光面回転角を光強度に変換して、磁場の強度分布を可視化する非破壊試験に利用される。欠陥の深さと磁場の強度分布の関係性は磁気光学イメージングに与える影響を明らかにするうえで重要であるが、マイクロメートルオーダでの磁場分布の測定が必要で実測が難しい。そこで有限要素法を用いて磁場の強度分布を理論的に解析し、欠陥深さに応じた漏洩磁界分布を定量的に明らかにした。