[15p-S2_202-1~10] CS.1 2.3 加速器技術・加速器質量分析・ビーム分析、7.4 イオンビーム一般のコードシェアセッション

14:00 〜 14:15

[15p-S2_202-1] 荷電粒子と放射光を励起源とした特性X線による元素組成分布分析・イメージング技術の比較

中妻 愛友美¹、韓 凝²、簡 梅芳²、遠山 翔¹、三輪 美紗子¹、松山 成男¹、〇加田 渉¹ (1.東北大量子、2.東北大環境)

キーワード：

IBA、SR、マイクロビーム

本研究では、集束イオンマイクロビームを用いるマイクロPIXE (Particle induced X-ray Emission)法での分析経験のある植物試料、有機物・無機物・さらにはそれらの混合試料を用いて、マイクロPIXE法と放射光蛍光X線分析(SR-XRF)法の比較を行うことで、生体試料をターゲットとしたイオンビーム分析(Ion beam analysis: IBA)技術と放射光分析両手法の特性評価、並びに両手法の相補的活用による生体内微量元素の高精度解析プロトコルの検討可能性を評価した。それぞれのビームプローブの集束形態とそれぞれの元素組成の分析感度、照射による試料損傷などを比較した。現行の結果においては、マイクロPIXE分析は分解能や試料損傷の観点で、よりライフサイエンス用途に適した分析結果を提供できる可能性が示唆された。