[15p-S2_202-1~10] CS.1 2.3 加速器技術・加速器質量分析・ビーム分析、7.4 イオンビーム一般のコードシェアセッション

16:00 〜 16:15

[15p-S2_202-8] ガス充填型電磁石を利用した³⁶Cl-AMSの感度向上

〇松崎 浩之^1,2、山形 武靖¹、徳山 裕憲¹、戸谷 美和子¹、澤井 太郎² (1.東大MALT、2.東大工)

キーワード：

加速器質量分析、塩素36、バックグラウンド

東京大学MALTでは、ガス充填型電磁石（GFM）を用いて、³⁶Cl-AMSを行っている。今回、タンデム加速器の荷電変換におけるイオンの電荷として7+を選択、最終検出器であるガスカウンターのウィンドウに150nmの窒化ケイ素膜を用いることにより、バックグラウンドを従来より1桁向上することができた。これにより、1980年代のアイスコア中の³⁶Cl濃度を正確に測定することができた。