講演情報
[16p-M_124-11]SEM-CL法によるペロブスカイト膜粒界偏析及びバンドギャップ評価検討
〇陶山 直樹1、水嶋 千尋1、石川 亮佑1 (1.都市大総研)
キーワード：
ペロブスカイト太陽電池、SEM-CL、粒界偏析
タンデム太陽電池用ペロブスカイト膜では、粒界や界面に起因する不均一性の評価が重要である。本研究ではSEM-CL法を用い、逆構造ペロブスカイト太陽電池における膜表面のCL強度およびスペクトルマッピングを行った。CLスペクトルからPVK由来およびPbI₂関連発光を識別し、粒界近傍での偏析挙動を可視化した。さらにCLピーク波長マッピングにより、バンドギャップ評価の可能性と課題について議論する。