講演情報
[16p-S2_202-4]X 線干渉計応用に向けた TES マイクロカロリメータ搭載位置検出器の研究
〇野崎 理央1、山田 真也1、林 佑2 (1.立教大学大学院理学研究科物理学専攻、2.理化学研究所)
キーワード：
長右伝導遷移端型マイクロカロリメータ
我々のグループでは、ブラックホール近傍の物理を探査するためのX線撮像を目的として、X線干渉計の実現に向けた位置検出型X線検出器の開発に取り組んでいる。ブラックホールの撮像にはX 線高角度分解能観測が必要であり、X線干渉計が必須となる。そこで、我々のグループでは検出器側の位置決定精度を従来から2桁以上向上を可能とする超伝導転移端型X線マイクロカロリメータ(TESカロリメータ)の開発に取り組んでいている(Figure1)。ブラックホールは地球から非常に遠くが小さいため、解像度を向上させる必要があり、従来以上に検出器の光子の位置分解能が要求される。その位置分解能は0.1µm以下と非常に高精度な位置検出が必要である。我々は光子の高位置分解能を達成するため、超伝導遷移を利用した温度感度の高い”超伝導遷移端マイクロカロリメータ（TESカロリメータ）”の利用を試みている。