[16p-WL1_401-1~12] 【一般公開】就活生必見！ 理科学の知と技術者の挑戦　～ AI×半導体の新世界 ～

14:45 〜 14:55

[16p-WL1_401-4] NGR AI向け先端半導体検査計測への挑戦

〇本間 飛翔¹、中澤 伸一¹、丸山 浩太郎¹ (1.TASMIT, Inc.)

キーワード：

走査電子顕微鏡、Die to Database、半導体検査計測