講演情報
[16p-WL2_401-7]TDIS法による単一粉末焼結BiTeバルク材料のzT空間分布測定
〇佐藤 仁薫1、長谷川 靖洋1 (1.埼玉大院)
キーワード:
熱電変換、TDIS法
TDIS(Time Domain Impedance Spectroscopy)法とは、ペルチェ熱輸送によって生じる熱電抵抗とオーミック抵抗を測定することにより、1つのサンプルでzT評価が可能な測定手法である。本研究では、300Kにおいてn型BiTeバルクの縦方向(5mm)に対し、TDIS法を用いてzTの分布を評価し、zT分布が0.413~0.447と測定された。
