[17p-S2_204-1~18] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

18:15 〜 18:30奨励賞エントリー

[17p-S2_204-18] トポロジカルデータ解析によるFE-SEM像を用いたナノ構造表面の形態分類

〇(B)高塚 和夏¹、廣瀬 由紀子¹、南谷 英美²、赤木 和人³、菅原 徹^1,2 (1.京工繊大、2.阪大産研、3.東北大AIMR)

キーワード：

ナノ材料、トポロジカルデータ解析、表面形態

ナノ構造材料の表面形態はデバイス機能の支配要因となるが、複雑な形態のナノ材料が造形する表面構造の評価は困難であった。本研究では、トポロジカルデータ解析（TDA）を用いた客観的な形態分類手法を提案する。FE-SEM像に対しパーシステントホモロジーを適用し主成分分析を行うことで、ナノロッドの密度や絡まり具合の定量的な分類に成功した。本手法は、物理的な形態特徴を数学的に記述可能な新たな評価指針を提供する。