講演情報

[17p-S4_203-5]光パラメトリック増幅器を用いた高繰り返しスクイーズド光のパルスホモダイン測定

〇(B)山崎 俊徳1、星野 佳嗣1、髙橋 一真1、大泉 幹1、廣田 和希1、中島 将貴1、星 尊也1、鈴木 拓海1、柏﨑 貴大2、山嶋 大地2、井上 飛鳥2、梅木 毅伺2、遠藤 護1,3、古澤 明1,3,4 (1.東大工、2.NTT 先デ研、3.理研RQC、4.OptQC)

キーワード:

光量子状態生成、光パラメトリック増幅、パルスホモダイン測定

連続量光量子情報処理の高速化を目的に、光パラメトリック増幅器(OPA)による位相敏感増幅(PSA)を用いた量子光のパルスホモダイン測定を実証した。OPAでのプリアンプにより光ロス耐性と測定系の広帯域化を両立し、ロスに脆弱な量子光を高繰り返しに測定することが可能となる。本研究においては、2.5GHzの高繰り返しのパルススクイーズド状態を生成し、PSAによるプリアンプの後、パルスホモダイン測定を行った。