講演情報
[17p-WL2_301-8]デュアルEOコム分光法の自動補間法による光周波数シフト量の精密計測法
〇(M1)光岡 佑馬1、西川 正1 (1.東京電機大)
キーワード：
光周波数コム、分光計測
分光計測において, EOコムの波長帯域と波長分解能を両立して確保できる自動補間法は, 光源がフリーランニングなため正確に光周波数をシフトできているか不明瞭であり, また計測時間中の光周波数シフト量の直接計測が困難であった. 本研究では自動補間デュアルEOコム分光系において, RFコムスペクトル上で二箇所で観測できる同一の吸収スペクトルのピーク間隔から光周波数シフト量の正確な計測を目指す.