2026年第73回応用物理学会春季学術講演会
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[18a-PB3-10]
イオンビーム質量分析装置のシミュレーションと可視化
〇石橋 実
1
、松友 真哉
1
(1.新居浜高専)
キーワード:
イオンビーム、可視化、シミュレーション
本研究では、Wienフィルタに着目し、複数の設計パラメータを自動的に最適化する手法を導入することで、設計指針の体系化を図るとともに、例として、Ar⁺の質量分析シミュレーションを通じて、分析装置の小型化と性能向上の両立を目指す。
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