講演情報

[18a-PB3-10]イオンビーム質量分析装置のシミュレーションと可視化

〇石橋 実1、松友 真哉1 (1.新居浜高専)

キーワード:

イオンビーム、可視化、シミュレーション

本研究では、Wienフィルタに着目し、複数の設計パラメータを自動的に最適化する手法を導入することで、設計指針の体系化を図るとともに、例として、Ar⁺の質量分析シミュレーションを通じて、分析装置の小型化と性能向上の両立を目指す。