講演情報
[18p-S2_202-5]半導体量子ビットにおけるトンネル結合ノイズ評価手法の検討
〇(B)東 幸希1、松田 達也2、小寺 哲夫2、米田 淳1 (1.東大、2.東京科学大)
キーワード：
半導体量子ドット、電荷ノイズ、トンネル結合
半導体量子ドットにおけるサイト間のトンネル結合のノイズは量子操作の忠実度に影響すると考えられるが、他のノイズ源との分離が要求されるため測定手法が確立されていない。今回我々は二重量子ドット内の少数電子系を用いた測定手法を検討した。候補となるいくつかの手法の精度のノイズ強度依存性を、数値シミュレーションを用いて調べた。講演では、各手法による測定の実現可能性を比較した結果等について報告する。