講演情報

[J102-05]地震起因Natechリスク評価に向けた配管エルボの損傷モードと発生モーメントの関係

〇滝藤 聖崇1,2、武田 啓汰2、古屋 治2、中村 いずみ3、奥田 幸彦1、山崎 達広1 (1. 日本原子力研究開発機構、2. 東京電機大学、3. 東京都市大学)

キーワード:

配管、加振試験、エルボ