[T2] 磁性材料・磁気デバイスにおける微細構造制御と機能発現

14:10 〜 14:25

[3-11A] Co/Gd多層膜におけるSOT磁化反転の測定と磁壁メモリへの応用 《物性》

*吉田 笙子¹、塩田 陽一^2,3、成田 秀樹²、久富 隆佑^2,3、輕部 修太郎^2,3、小野 輝男^2,3 (1. 京都大学大学院理学研究科、2. 京都大学化学研究所、3. 京都大学スピントロニクス学術連携研究教育センター）（※この発表者は優秀講演発表賞の対象者です。)

キーワード：

SOT磁化反転、フェリ磁性、MRAM、メモリ、薄膜