講演情報

[B-209]ミクロ構造の接触を考慮した数値材料試験手法の提案

*土田 翔夢1、小塚 祐也1、見寄 明男2、高島 慎吾1、谷口 憲彦1、染宮 聖人3、平山 紀夫3 (1. 株式会社アシックス、2. ダッソー・システムズ株式会社、3. 日本大学)

キーワード:

数値材料試験、ラティス構造


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