講演情報
[I-204]XAIを使用した成形不良検知と要因探索
*大平 倭1、内山 祐介1、鴨下 朋留2、木村 匠乙2、大野 佑馬2、村田 泰彦2 (1. 株式会社MAZIN、2. 日本工業大学)
キーワード:
射出成形、成形不良検知、XAI
射出成形の自動化を目的としたAIによる成形不良検知技術の研究が進められている。
一方で、成形現場からはAIの判定結果に対する解釈が求められている。
本講演では、解釈可能なAI技術であるXAIを用いることで、AIが判定した成形不良の要因を特定する研究について発表する。
一方で、成形現場からはAIの判定結果に対する解釈が求められている。
本講演では、解釈可能なAI技術であるXAIを用いることで、AIが判定した成形不良の要因を特定する研究について発表する。
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