講演情報

[I-204]XAIを使用した成形不良検知と要因探索

*大平 倭1、内山 祐介1、鴨下 朋留2、木村 匠乙2、大野 佑馬2、村田 泰彦2 (1. 株式会社MAZIN、2. 日本工業大学)

キーワード:

射出成形、成形不良検知、XAI


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