[SO2] ショートオーラルセッション2

[IS2-11] Intensity Increment Outliers Detector and Local Orientation Code Pattern for Robust Defect Detection in Background of SHIBO Surfaces

*ヤン ヤーピン¹、金子 俊一¹、浅野 裕一² (1. 北海道大学、2. 華為技術日本)

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