講演情報

[IS3-19]Deep Metric Learningを用いた食品画像照合のための特徴抽出

*伊東 裕貴1、藤松 健2、古山 純子2、石橋 達矢2、山岡 めぐみ3、青木 義満1 (1. 慶應義塾大学、2. パナソニックコネクト、3. パナソニックシステムネットワークス開発研究所)