Session Details
[[G]3201-2am]Synchrotron-based Structure Analysis for Chemists: μ-SCXRD, PXRD, PDF, and XFEL
Thu. Mar 27, 2025 9:00 AM - 11:40 AM JST
Thu. Mar 27, 2025 12:00 AM - 2:40 AM UTC
Thu. Mar 27, 2025 12:00 AM - 2:40 AM UTC
[G]3201(3201, Bldg. 3, Area 4 [2F])
高輝度・高分解能の放射光を利用したX線回折は,新物質創製にかかわる構造解析研究の趨勢を左右する決定的手段として重要である.特に μmサイズの微小単結晶や粉末結晶からの構造解析は,医薬品,触媒,半導体,燃料電池など幅広い分野における必須の手法となっており,測定対象も結晶から非晶質までをカバーしている.我が国の放射光施設では様々な機能性分子・材料の構造研究に適したビームラインの高度化,測定手法が開発されている.本企画では,放射光施設を利用して研究を行っている化学者を招き,微結晶・粉末結晶X線回折による構造解析の基礎から先端・産業利用における最近の成果について丁寧に講演頂く.
[[G]3201-2am-01]Fundamentals and advanced applications of structural analysis by powder X-ray diffraction
○Kotaro Fujii1 (1. Institute of Science Tokyo)
[[G]3201-2am-02]Atomic Configuration Modeling Using Total Scattering Data and Topology Analysis of Battery Materials
○Naoto Kitamura1 (1. Tokyo University of Science)
[[G]3201-2am-03]Structural Analysis on Micro-Single Crystals of Hydrogen-Bonded Organic Frameworks Using Synchrotron X-ray Radiation
○Ichiro Hisaki1 (1. Osaka University)
Break
[[G]3201-2am-04]Protein Microcrystal Engineering for Observing Invisible Structures
○Takafumi Ueno1 (1. Institute of Science Tokyo)
[[G]3201-2am-05]Reaction distribusion analysis of all-solid-state batteries by confocal X-ray diffraction method and its extension to high time-resolution reaction mechanism analysis using pink-beam X-ray
○So Fujinami1 (1. Kyoto University)