Presentation Information
[19p-B101-6]Effects of AlN Interlayer Thickness on AlN Templates on Sapphire Substrates
〇(M2)Tomoaki Kachi1, Hayata Takahata1, Ryunosuke Oka1, Hisanori Ishiguro1, Tetsuya Takeuchi1, Satoshi Kamiyama1, Motoaki Iwaya1, Yoshiki Saito2, Koji Okuno2 (1.Meijo Univ., 2.TOYODA GOSEI Co.,Ltd)
Keywords:
semiconductor,AlN,UV-C LED
新型コロナウイルスの不活化手段としてAlGaN系UV-C LEDが注目されている。コスト面で有利なサファイア基板上の高品質AlNテンプレートが必要であり、Al原料の低いマイグレーションをカバーするため高温成長での高品質化が一般的である。一方で、クラックの発生やMOCVD装置への負荷が課題である。本発表では中間層の膜厚によりAlNテンプレートの表面状態が大きく変化し、低い成長温度(1200℃)でも平坦なAlNテンプレートが得られたので報告する。