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[20a-A309-1]Characterization of ferroelectric switching properties for multilayer (Al,Sc)N films with various composition ratio
〇(D)Shinnosuke Yasuoka1, Kazuki Okamoto1, Takao Shimizu2,3, Naoko Matsui4, Toshikazu Irisawa4, Koji Tsunekawa4, Hiroshi Funakubo1 (1.Tokyo Tech., 2.NIMS, 3.JST PRESTO, 4.Canon ANELVA)
Keywords:
ferroelectric,thin film,nitride
ウルツ鋼構造を有する(Al,Sc)N膜は優れた強誘電特性から、強誘電体メモリへの応用が期待されている。分極のスイッチング特性に関する研究はウルツ鋼型強誘電体の基礎物性の理解だけでなく次世代強誘電体デバイスの開発促進にも不可欠である。本研究では、種々の組成比の(Al,Sc)N膜を作製し、そのスイッチング特性を評価した。また、異なる組成の膜で挟んだ多層膜を作製することにより界面層が強誘電特性に及ぼす影響を調査した。