Presentation Information
[20p-A309-9]Crystal structure analysis of (100) BiFeO3 epitaxial thin films fabricated by combinatorial sputtering method on Si substrates
〇Kohei Takaki1, Sengsavang Aphayvong1, Norifumi Fujimura1, Takeshi Yoshimura1 (1.Osaka Metro. Univ.)
Keywords:
ferroelectric,epitaxial films,BiFeO3
IoT社会の実現に向け、センサーノードの数は飛躍的に増加しており、それらに電力を供給する技術として環境発電が注目を集めている。我々は、圧電MEMS振動発電素子(MEMS-pVEH)の開発を進めており、圧電材料には巨大な自発分極を持つ非鉛強誘電体であるBiFeO3に着目している。本発表では、LaNiO3シード層を用いて単相成長させた(100)BiFeO3エピタキシャル薄膜を作製し、Bi供給量と成長温度が結晶構造に与える影響を調べた。