[21a-A304-1~11] 13.5 Semiconductor devices/ Interconnect/ Integration technologies

10:00 AM - 10:15 AM JST(1:00 AM - 1:15 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[21a-A304-5] Assessment of parasitic components and effect on impedance matching in RF reflectometry

〇(M2)Ryo Matsuda¹, Jun Kamioka¹, Raisei Mizokuchi¹, Jun Yoneda¹, Tetsuo Kodera¹ (1.Titech)

Keywords:

RF reflectometry,matching circuit,quantum dot

量子ドットスピン量子ビットにおいて、RF反射測定は高感度・広帯域な読み出し技術として有望である。RF反射測定における整合回路は、感度や帯域を決定づける重要な要素であるが、測定系における寄生成分も性能に影響を与え、それを考慮した回路設計が重要である。そこで本研究では、極低温下でのSパラメータ測定から、寄生成分も含めた等価回路パラメータを導出し、それを基にした整合回路の設計、感度や帯域の評価を行った。