[24p-12M-1~21] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

4:00 PM - 4:15 PM JST(7:00 AM - 7:15 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[24p-12M-12] Evaluation of Stress around Electrodes of Crystalline Silicon Solar Cells under Temperature Change

〇Koki Hasebe¹, Koki Ide¹, Ryo Yokogawa^1,4, Kyotaro Nakamura², Yoshio Ohshita², Noboru Yamada³, Atsushi Ogura^1,4 (1.Meiji Univ., 2.Toyota Tech Inst., 3.Nagaoka Univ. of Tech., 4.MREL)

Keywords:

Crystalline Silicon Solar Cells,Raman Spectroscopy,Thermal Cycle Test

結晶Si太陽電池の長期信頼性評価で、熱サイクル試験後にEL測定でバスバー電極近傍からのクラック発生が見られる場合があり、応力が関係していると考えられる。従って、熱機械応力の起源を解明し、制御することが重要である。本研究では温度可変ラマン測定を実施し、バスバー電極近傍にて温度に対する応力の変化を測定した。結果、温度サイクル試験によるSiの応力変化の繰り返しがクラックの原因になることを明らかにした。